UIG产品速递 | Z系列射频芯片测试座

2024-10-08

射频芯片测试座，即RF IC Test Socket，是用于连接射频芯片和测试机台的接口装置。通过射频芯片测试座，射频信号能够被准确地传输到测试仪器，从而进行芯片电气性能的筛选。

射频芯片广泛应用于移动智能终端设备、WiFi、汽车电子和智慧医疗等领域，其封装形式大部分为QFN（Quad Flat No-lead）。市场对射频芯片测试座的需求越来越多，也越来越高。

由于射频信号通常频率较高、波长较短，传输过程中易受到衰减和干扰，射频芯片测试座需要高度的精密性，和林微纳研发团队在设计时会特别关注这些因素。

此次将给大家介绍Z系列射频芯片测试座。

和林微纳Z系列射频芯片测试座，通过精密的机械结构设计，选择高品质的材料，能最大限度地减少信号损失和干扰，从而保证测试结果的准确性。该系列测试座广泛应用于5G、PA、Switch、WIFI、LNA、Bluetooth、Audio Chip等领域。

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