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UIG产品速递 | Z系列射频芯片测试座

2024-10-08

        射频芯片测试座,即RF IC Test Socket,是用于连接射频芯片和测试机台的接口装置。通过射频芯片测试座,射频信号能够被准确地传输到测试仪器,从而进行芯片电气性能的筛选。


        射频芯片广泛应用于移动智能终端设备、WiFi、汽车电子和智慧医疗等领域,其封装形式大部分为QFN(Quad Flat No-lead)。市场对射频芯片测试座的需求越来越多,也越来越高。


        由于射频信号通常频率较高、波长较短,传输过程中易受到衰减和干扰,射频芯片测试座需要高度的精密性,和林微纳研发团队在设计时会特别关注这些因素。


        此次将给大家介绍Z系列射频芯片测试座


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        和林微纳Z系列射频芯片测试座,通过精密的机械结构设计,选择高品质的材料,能最大限度地减少信号损失和干扰,从而保证测试结果的准确性。该系列测试座广泛应用于5G、PA、Switch、WIFI、LNA、Bluetooth、Audio Chip等领域。


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