UIG产品速递 | 老化测试座 Burn-in Socket
2024-11-22
在可靠性测试中，老化测试座起着重要作用，它用于模拟芯片在长时间使用过程中的老化效应，以评估芯片的可靠性。
和林微纳老化测试座，精度高、稳定性高、可靠性高、可定制化，适用于HTOL、HAST以及封装后的多种芯片测试。
我司可提供独立温控手测盖的解决方案，手测盖自带加热装置，内置加热元件及温度传感器，可连接程序温控系统，并配置散热器+风扇散热系统，无需高温槽也能进行老化测试。
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