UIG产品速递 | 老化测试座 Burn-in Socket
2024-11-22
在可靠性测试中,老化测试座起着重要作用,它用于模拟芯片在长时间使用过程中的老化效应,以评估芯片的可靠性。
和林微纳老化测试座,精度高、稳定性高、可靠性高、可定制化,适用于HTOL、HAST以及封装后的多种芯片测试。
我司可提供独立温控手测盖的解决方案,手测盖自带加热装置,内置加热元件及温度传感器,可连接程序温控系统,并配置散热器+风扇散热系统,无需高温槽也能进行老化测试。
联系电话|+86 0512-87176308
邮箱|Sales@uigreen.com
地址|苏州高新区峨眉山路80号、普陀山路196号
上一篇:
UIG产品速递 | Z系列射频芯片测试座
返回列表