MEMS Probe Card

· 针尖 Over Drive 50um-130um，可满足不同机台测试行程

· 自主研发 MEMS Pin合金工艺，能满足极限间距（最小45um）

· 针身一致性高，针尖水平在10um以内测试更稳定

· 采用独特 MEMS Point工艺，满足不同 Pad测试需求