探针卡

• 针尖 Over Drive 45um-130um，可满足不同机台测试行程

• 自主研发 MEMS Pin合金工艺，能满足极限间距（最小45um）

• 针身一致性高，针尖水平在10um以内测试更稳定

• 采用独特 MEMS Point工艺，满足不同 Pad测试需求