半封装测试探针(SEMI)-Z系列探针

半封装测试探针(SEMI)-Z系列探针

Z系列探头适合QFN封装芯片测试,间距从300mm - 800mm。高频可靠的RFSignal完整性,自清洗系统确保移除Pad的Sn,以获得更高的测试收率。